2) 주요내용 : 국내 대기업 출신 객원교수의 산업 현장 중심 강의로 반도체 테스트 기초(1일), ATPG·Scan·LBIST 등 DFT 기술(1일), SRAM·MBIST·Analog·High-Speed I/O Test 이론(1일)과 Teradyne UltraFLEX 기반 DC/Functional Test Program 개발 실습(2일)을 진행하며, 이론교육과 실제 ATE 장비 실습을 연계하여 반도체 Test/Product Engineer 직무에 필요한 이론과 실무 역량을 체계적으로 습득하는 5일 과정임.

3) 접수기간 : 2026. 7. 22. (수) ~ 8. 5. (수)

* 2026. 8. 2.(일) 교내 전기설비 점검으로 인해 당일 수강신청 사이트 접속이 불가능하여 수강신청이 불가능 합니다.

4) 모집인원 : (이론) 40명 / (실습*) 10명

* 실습 권장 역량: Visual Basic/VBA 또는 C# 등 프로그래밍 언어의 기초 문법을 이해하고, 예제 코드를 따라 작성·수정할 수 있는 자

5) 수 강 료 : (이론) 200,000원 / (실습) 100,000원

6) 대 상 : 교내 구성원(학부, 대학원생) 및 직업계고 교사 등

7) 교육장소 : (이론) 상상관 624호 / (실습) 송파구 송파대로 155 (문정동, NH송파농협빌딩) 7층 Teradyne Korea

8) 접수방법 : 서울과학기술대학교 외부접속시스템에서 직접 신청 (신청하기)

for-u.seoultech.ac.kr/generate/OUTER/index_post.html

※ 교외 관련분야 직업계고 교사 신청 시 외부접속시스템 회원가입 필요(교내 구성원의 경우 포탈 로그인 정보로 접속 가능)

※ 접수 방법은 첨부파일 참조

※ 5명 미만 신청시 폐강

2. 교육 일정

요일 시간	1일차 (이론)	2일차 (이론)	3일차 (실습)
9:00~10:00	반도체 Test 소개	ATPG-1	Simulator 프로그래밍 (DC)
10:00~11:00	Test Infrastructure	ATPG-2
11:00~12:30	Test H/W, SW	ATPG-3
12:30-13:30	점심
13:30~14:30	Defect, Fault, Yield	ATPG-4	ATE 검증 (DC)
14:30~15:30	Verification	Sequential ATPG
15:30~17:00	Fault Model/Simulation	SCAN, LBIST

요일 시간	4일차 (실습)	5일차 (이론)
9:00~10:00	Simulator 프로그래밍 (Function)	SRAM Test
10:00~11:00		MBIST-1
11:00~12:30		MBIST-2
12:30-13:30	점심
13:30~14:30	ATE 검증 (Function)	Analog Test(PLL, ADC, DAC)
14:30~15:30		High Speed IO Test
15:30~17:00		강의평가, 수료증 배부 (1hr)

3. 환불 규정(인터넷 계좌이체 및 카드결제 수수료 제외)

1) 수업 개시 전: 수강료 전액 환불(외부접속시스템에서 직접 신청)

2) 수업 개시 후: 취소 시점에 따른 부분 환불(수강취소신청서 제출(첨부파일작성, snut013@seoultech.ac.kr))

① 총 수업시간의 1/3 경과 이내 : 수강료의 2/3 환불

② 총 수업시간의 1/3 초과 1/2 경과 이내: 수강료의 1/2 환불

③ 총 수업시간의 1/2 초과: 환불 없음

4. 수료기준
1) 이론

1일차(월): 이론 (오전 / 오후 (2회))

2일차(화): 이론 (오전 / 오후 (2회))

5일차(금): 이론 (오전 / 오후 (2회))

위 총 6회 중 5회 이상 (70% 이상) 출석한 경우에 한하여 수료증이 배부됩니다.)

2) 실습

3일차(수): 실습 (1회)

4일차(목): 실습 (1회)

위 총 2회 중 2회 이상(70% 이상) 출석한 경우에 한하여 수료증이 배부됩니다.)

5. 기타 문의사항: 공동실험실습관 02-970-7240 / khjo0945@seoultech.ac.kr

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